元器件测试试验
基于GJB2438A-2002《混合集成电路总规范》、GJB597A-1996《半导体集成电路总规范》以及工业级集成电路要求,参照GJB128-97《半导体分立器件试验方法》、GJB360B-2009《电子及电器元件试验方法》、GJB548B-2005《微电子器件试验方法和程序》,进行元器件所有项目的测试、筛选、鉴定检验、快速高质量完成军用/民用用户的测试试验需求,并提供全面服务保障。
具体服务项目
分析检测试验
X射线检查、PIND、声扫、机械开盖、扫描电镜检查、剖面镜检、内部水汽含量分析
结合强度试验
密封、引线牢固性、芯片剪切强度、键合强度
机械能力试验
恒定加速度、机械冲击、扫频振动
服役环境试验
温度循环、热冲击、热真空、耐湿、盐雾
电学参数测试
分立半导体器件、集成电路、混合集成电路、阻容感元件
构建测试系统
采用NI板卡和LABVIEW软件快速构建测试系统
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